Di.3.B - Optische Verfahren
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Di.3.B.1
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3D-Phasenmessung - ein hochentwickeltes Mess- und Bildgebungssystem
K. Broda, R. Hofmann, GE Measurement & Control Solutions, Hechingen
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Powerpoint
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Di.3.B.2
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Verbesserung der Auffindwahrscheinlichkeit (POD) von Oberflächenfehlern in Metallerzeugnissen mittels optischer Inspektionsverfahren und Bildverarbeitung
M. Rauhut, M. Spies, K. Taeubner, Fraunhofer ITWM, Kaiserslautern
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Manuskript
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Di.3.B.3
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Shearographie in der zerstörungsfreien Prüfung
C. Spießberger, A. Dillenz, edevis, Stuttgart
P. Mäckel, isi-sys, Kassel
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ohne Manuskript
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